Учёные разработали новый тип микроскопа. Он позволяет наблюдать двумерные материалы, которые раньше были практически невидимыми для стандартных методов визуализации. Речь идёт о слоях толщиной в один атом, свойства которых было сложно изучать напрямую.
Микроскоп сочетает атомно-силовую микроскопию с инфракрасной оптикой. Это позволяет фиксировать, как материал взаимодействует со светом, и буквально «подсвечивать» его структуру на наноуровне.
Двумерные материалы считаются перспективными для электроники, сенсоров и квантовых технологий, но их развитие тормозилось из-за сложности измерений. Новый метод даёт исследователям инструмент для точного изучения свойств таких материалов в реальных условиях.
