😢 Проблема: снять отпечатки пальцев с использованной гильзы очень сложно. Во время выстрела в оружии повышаются температура, давление и трение, из-за чего летучие компоненты остатков отпечатков удаляются. Изогнутая форма гильзы также затрудняет анализ.
😎 Решение: чувствительный метод анализа поверхности ToF-SIMS, который определяет местонахождение различных химических веществ. Поверхность гильзы ионизируют, чтобы высвободить ионы летучих компонентов отпечатков. Затем эти ионы ускоряют и разделяют в соответствии с отношением массы к заряду. В результате создаётся спектр, который указывает на химический состав образца.
С помощью ToF-SIMS удалось получить изображения отпечатков пальцев, которые не были видны при использовании традиционных методов анализа.
🤨 Зачем? Новый метод позволит снимать отпечатки пальцев с гильз, найденных на месте преступления, а значит, будет легче найти злоумышленников.
👥 Кто: исследователи Ноттингемского университета, Великобритания.
Источники: sciencedaily.com и pubs.rsc.org
